3月20日，備受矚目的慕尼黑上海光博會(huì)在上海新國(guó)際博覽中心開(kāi)幕，晶飛科技憑借其在光譜儀領(lǐng)域雄厚的產(chǎn)品技術(shù)實(shí)力及卓越的市場(chǎng)表現(xiàn)受邀參展。

本次展會(huì)，晶飛科技立足高智能、高品質(zhì)的產(chǎn)業(yè)基礎(chǔ)，重點(diǎn)推出“膜厚儀測(cè)試”、“拉曼測(cè)試”、“反射率測(cè)試”、“吸光度測(cè)試”、“透過(guò)率測(cè)試”五大解決方案，吸引了大批行業(yè)專(zhuān)家和觀眾的駐足與關(guān)注。參展同事積極為來(lái)訪人員答疑解惑，向他們?cè)敿?xì)介紹晶飛科技品牌的歷史延革、產(chǎn)品的市場(chǎng)優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用背景、解決方案的專(zhuān)業(yè)性和廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景，得到了專(zhuān)家和觀眾的一致認(rèn)可。

后續(xù)，晶飛科技將進(jìn)一步深耕光譜儀行業(yè)數(shù)字化、智能化，致力于成為領(lǐng)先的光譜儀智能整體解決方案的提供者，為國(guó)家的國(guó)產(chǎn)化事業(yè)不斷獻(xiàn)智獻(xiàn)策。熱烈歡迎行業(yè)專(zhuān)家及客戶(hù)參觀指導(dǎo)工作。